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XJ4832元器件测试仪
XJ4832
XJ4832元器件测试仪 本机是新一代数字化测量仪器。采用新颖电路设计技术,通过微处理器集中控制整个系统的数据采集、显示、打印、存储,处理人机交互信息等。具有高集成度、高可靠性。以屏幕显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数,并可将测试结果存储、打印、随时调用。本机具有友好的人机界面,有中、英文两种语言供选择。 综合的存储能力
XJ4822元器件测试仪
XJ4822
XJ4822元器件测试仪 CRT读出图示仪,外观新颖,技术先进,操作方便,能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便,二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时,可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。
QT2型半导体管特性图示仪
QT2
QT2型半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数,最大集电极电流超过50A,能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置,可对5KV以下的二极管、三极管进行击穿电压及反向漏电脑测试。其测试电流最高灵敏度可达0.5μ/div
XJ4810A型半导体管特性图示仪
XJ4810A
XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示,双向集电极扫描电路,可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析,便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div,配备扩展装置后,VC可达3KV;可测试CMOS及TTL门电路传输特性;可对场效应管进行配对或对管测试;可测试三端稳压管特性。
XJ4812型半导体管特性图示仪
XJ4812
XJ4812型半导体管特性图示仪 本仪器是用于测量各种半导体管特性曲线和静态参数的测量仪器,是新一代便携式图示仪。整机采用新颖电路设计技术,具备外形轻巧,操作简便,性能稳定可靠,性价比高的特点,能满足大部分半导体器件的测试要求。适合工厂生产线、大专院校教学实验和电子设备维修等领域使用。
CRT读出半导体管特性图示仪
XJ4820
XJ4820型CRT读出半导体管特性图示仪用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,以数字字符显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数,从而减少了读数误差,提高了测量精度。本仪器是新一代智能化的测量仪器。CRT读出半导体管特性图示仪
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